13-14 травня 2025 року в місті Кельце (Польща) відбулася міжнародна конференція «Штучний інтелект у метрології» / «Artificial Intelligence in Metrology», організована Головним управлінням мір (GUM) у межах головування Польщі в Раді Європейського Союзу. Захід проходив на базі Свєнтокшиського лабораторного кампусу GUM.

Конференція зібрала директорів національних метрологічних інститутів країн ЄС і партнерських держав для обговорення можливостей і викликів, пов’язаних із впровадженням штучного інтелекту (ШІ) у сферу метрології.

Участь у заході також взяли:

• Юрій ПОТОКІН, генеральний директор ДП «УКРМЕТРТЕСТСТАНДАРТ»;
• Юрій КУЗЬМЕНКО, к.т.н., заступник генерального директора з метрології, представник CIML від України;
• Ігор ПОТОЦЬКИЙ, к.т.н., директор Науково-технічного інституту національної метрологічної служби України.

Мета конференції:

• Оцінити потенціал ШІ у підвищенні точності та ефективності вимірювань.
• Обговорити інтеграцію ШІ в різні напрями метрології, зокрема:
  • метрологію довжини (координатні вимірювання),
  • медичну метрологію.
• Розглянути етичні, правові та технічні аспекти застосування ШІ в метрологічних процесах.

Основні теми обговорення:

• ШІ в метрології — можливості та виклики: аналіз потенціалу ШІ для підвищення точності вимірювань і автоматизації процесів.
• ШІ в метрології довжини: застосування ШІ у координатних вимірюваннях і обробці відповідних даних.
• ШІ в медичній метрології: використання ШІ для вимірювань, пов’язаних із медичними приладами та діагностикою.

Чому це важливо:
Інтеграція ШІ у сферу метрології відкриває нові перспективи для:

• підвищення точності й надійності вимірювань;
• автоматизації процесів збору та аналізу даних;
• розробки нових стандартів і методик, що відповідають вимогам сучасних технологій.

Разом із тим, вона потребує:

• створення етичних і правових засад використання ШІ;
• забезпечення прозорості й простежуваності результатів, отриманих за допомогою ШІ;
• підготовки фахівців із новими компетенціями для ефективного застосування ШІ в метрології.

Ця конференція стала важливим кроком на шляху до глибшої інтеграції штучного інтелекту в метрологію, що сприятиме розвитку точних вимірювань та інновацій у різних галузях.